原位变温XPS（X射线光电子能谱）是一种先进的表面分析技术，它结合了XPS的高表面灵敏度分析能力和原位环境控制，允许在特定气氛、温度等条件下实时监测材料表面的化学状态变化。这项技术特别适用于研究材料在实际工作条件下的行为，如电池充放电过程中电极材料的表面化学变化、催化剂在反应气氛中的活性位点变化等。

1.  粉末样品提供50mg，量少请用称量纸包好再装到管子里寄送；

2.  块状/薄膜：长宽厚不超出5*5*10mm；

3.  测试说明：原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号！元素窄谱测试默认测最强峰轨道，H、He元素不可以测试，元素Li-Mg测试1s轨道，Al-Zn测试2p轨道，Ga-Dy测试3d轨道，Ho-Lu测试4d轨道，Hf-Cm测试4f轨道。如有特殊要求请备注；

4.  样品要充分干燥，干燥不充分的样品、多孔材料、样品尺寸比较大的，抽真空时间会相对比较长；

5.  样品表面应平整且清洁，以避免测量时产生噪声和不准确的结果。任何污染物或不均匀性可能会影响XPS信号的质量。

6.  XPS对导电样品的要求较高，因为非导电样品容易产生充电效应，导致谱图位移和信号失真。

7.  样品必须具备良好的热稳定性，不能在高温下发生分解或相变。

案例一 

1. 发文期刊：《Applied Surface Science, 426, 852-855》

2. 案例展示：

3. 测试需求：

对催化活性钌基薄膜的表面分子结构进行了不同温度下原位XPS的研究，该薄膜中含有不同氧化态的钌:金属(Ru0)、Ru02(Ru4+)和其他 RuOx(RuX+)，其中各氧化态的钌含量可以根据工艺温度的变化而变化。该结果可以帮助预测Ru基催化剂在不同氧化还原环境中的行为。

4. 测试解读：

• 如图 A-C所示，在不同的温度下，氧化过程都会导致与金属钌(Ru)相关的钌组分 Ru4+ 逐渐上升，但即使在673K下氧化 1h后，钌组分仍保留在催化剂表面上，并在873K下最终消失。 873 K氧化后的 Ru3d谱也显示出282.30eV成分的强度明显增加。

• 图D-E中可以发现，在473K进行的还原过程会完全改变钌基膜的表面化学结构。 钌含量会不断增加，而其他钌氧化态减少。 直到温度达到873K，不再改变钌表面氧化态之间的比例。