同步辐射GIWAXS是一种利用同步辐射源产生的高亮度X射线进行材料表面和内部结构分析的技术。它通过测量X射线在物质表面的反射程度，获取物质表面结构和有序信息，有助于揭示材料的宏观性能与微观结构之间的关系，被广泛应用于研究有机太阳能电池、钙钛矿太阳能电池的形貌特征、晶体结构等。

提示：GIWAXS/GISAXS测试有同步辐射光源和常规光源，请先根据文献或测试需求确认是否需要同步辐射光源测试GIWAXS/GISAXS。

1.  样品测试请提供空白基底样，要求在空白基底上沉积与器件制备工艺一致的传输层且测试收费；

2.  基底多为单晶硅，可提供，若自行准备尺寸不可超过2.5*2.5cm，1*1cm最好，默认样品不回收；

3.  测试前请明确测试条件，如q值范围、掠入射角度范围、曝光时间等；

4.  如对数据格式、数据处理有疑问，请先浏览数据说明；

5.  同步辐射项目测试为机时预约制，需测试前付费预约；

6.  请根据材料的耐氧、耐湿等性质，妥善封装样品；

案例一 

1. 发文期刊：《ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS》

2. 案例展示：

3. 测试需求：

想要明确TPTI-TPA2F和Spiro-OMeTAD薄膜的分子堆叠和晶体取向。

4. 测试解读：

• TPTI-TPA2F薄膜：TPTI-TPA2F薄膜具有明显的π-π堆叠衍射峰，位于q = 1.90 Å−1的出射方向，对应于3.30 Å的d间距。这表明TPTI-TPA2F分子在薄膜中呈现出典型的面对面堆叠。

• Spiro-OMeTAD薄膜：Spiro-OMeTAD薄膜在GIWAXS中显示出在q = 1.52 Å−1的连续衍射环，表明其分子堆叠形式是随机的。