同步辐射XAS（软线）是一种利用软X射线进行的同步辐射吸收谱分析技术，它主要关注于低能量X射线区域，通常用于研究轻元素的电子结构和化学状态。

1.  适用元素：特别适合分析轻元素，如碳(C)、氮(N)和氧(O）。

2.  结构信息：可以揭示材料的电子结构和原子周围的局部结构。

3.  样品多样性：适用于固体、液体和气体等不同状态的样品。

4.  高亮度光源：需要同步辐射光源提供高亮度的软X射线。

5.  高分辨率：能够进行高分辨率的成像，适合生物样品和材料界面分析。

6.  实验方法：包括透射法和荧光法等，根据样品特性选择。

1.  同步辐射XAS-软X射线测试元素激发能为能量范围在50eV~2000eV内。

2.  用于测非金属元素的吸收边（XANES），因此无标样数据，需要和资料文献比对分析化学态变化及归属。例如C、O的K边。

3.  粉末均质无孔（一般100mg以上，粒径400目以上）。

4.  液体，提供5ml，浓度越高越好。

5.  块体/片状：尺寸1*1cm，需要具体评估合适厚度。

6.  样品温度：30-300K 。

7.  因光源测试偶会出现掉光、设备故障等无法避免问题，可能会延长测试时间，望理解！

案例一 

1. 发文期刊：《Imaging local electronic corrugations and doped regions in graphene. Nat Commun 2, 372 (2011).》

2. 案例展示：

3. 测试需求：

1. 利用NEXAFS技术来表征石墨烯的未占据态电子结构。

2. 研究石墨烯的电子结构如何因波纹化、掺杂和表面吸附物而改变。

3. 厘清石墨烯X射线吸收精细结构谱中边前和层间态的谱峰归属。

4. 测试解读：

• 1. NEXAFS的峰位和线形代表了未占据原子投影态密度经过核心-空穴相互作用修改后的情况。

• 2. 通过与从头算X射线吸收计算的严格比较，获得对石墨烯电子结构的合理判断。

• 3. 通过NEXAFS技术与DFT计算相结合，表明了所谓的“层间态”可能并非单层石墨烯的内在特性，而是可能归因于样品在制备过程中与氧化剂和还原剂的相互作用导致的局部掺杂区域。