紫外光电子能谱（UPS）是一种利用紫外光激发样品表面释放光电子的表面分析技术。通过测量这些光电子的动能和数量，可以构建能谱，从而反映材料的电子结构。紫外光电子能谱的基本原理是光电效应，它可以用来研究气体样品的价电子和固体样品表面的原子、电子结构。
1. 样品最好是新鲜干燥的薄膜、块体材料，表面平整无污染，尺寸必须大于5*5mm-小于10*10mm左右，厚度小于2mm。
2. UPS测试表面1-2nm信息，表面吸附的碳氧会影响测试结果，建议暴露空气中的样品选择用离子源清洁后测试，数据更加准确。
3. 粉末样品建议使用旋涂法制备样品要求是基材材质为ITO、FTO、单晶硅片等半导体材料，尺寸必须大于5*5mm-小于等于10*10mm左右，厚度小于2mm，涂完膜干燥后能看到薄薄一层样品即可。
4. 粉末样品需要制样，粉末颗粒直径最好在1万目以下，摸起来类似面粉，越细越好。使用旋涂法制样，需要制备1cmX1cm的薄片，请提供2ml体积的样品量。做粉末样品风险大，不建议做，测试反馈真实的数据不做解释和复测处理。如果下单，默认接受风险。
5. 如果测试目的是功函数，要求样品的导电性比较良好，电阻小于3千欧。
6. 粉末样品如非必要不建议测试。
7. UPS测试对样品的要求比较高，切记一定要满足测试所需样品的要求！！！
案例1：
1. 为什么提供的UPS是两张谱图，而不是一张谱图？
通常有的UPS会把价带（VB）和二次电子截止边（SEC）一起扫描（如左侧谱图所示），但由于二次电子截止边的信号非常强，扫谱时必须降低分析器MCP的电压，这样会导致价带的信号较弱，不利于观测价带电子态。所以好一点的UPS 实验会把二次电子截止边（SEC） 和价带（VB）分开扫描，扫描二次电子截止边时分析器MCP用较低电压（如右侧谱图所示），扫描价带时MCP用较高电压，这样得到的谱图质量更高，是目前更为专业的测试方法。由于二次电子截止边和价带谱图是用不同分析器电压采集的，无法合并为一张谱图，可以采用 如右下谱图的方式绘制谱图放于文章中。
2. 粉末样品是否适合测试UPS，有哪些问题？
由于UPS测量中光激发的价带电子的动能只有几个eV，非常容易受到材料表面的导电性、 污染程度和粗糙度等因素影响，轻则导致谱图的峰位移动和峰形变化，重则导致无信号。UPS适用于分析表面均匀洁净的导体以及导电性好的半导体薄膜材料。对于合成的粉末样品，影响因素较多，UPS测试结果存在不确定性风险。
3. 样品制备和邮寄时注意什么？
制备薄膜时要选用导电性好的基底，如硅片或铜箔等，样品覆盖满基底表面，厚度尽可能薄。邮寄样品时，样品置于样品盒中需用少量双面胶固定，防止样品晃动导致表面损伤。注意是少量双面胶，双面胶用多了会导致样品难以取下，甚至发生破损。对于对水汽和空气敏感的样品，建议使用抽真空密封的样品袋。样品背面禁止粘标签纸，难以取下，影响抽真空。
4. ITO或FTO薄膜样品制备注意事项:
注意ITO或FTO导电玻璃的基底是玻璃（绝缘体），只有表面的ITO或FTO层是导电的，所以样品薄膜应该制备在导电薄膜一测。对于导电面的判断可以借助万用表测试，一般玻璃绝缘面的电阻值太大超出量程。对于透明薄膜样品，用双面胶粘样品时，一定要粘绝缘玻璃一测，防止污染样品表面。
5. 测试样品需要用导电双面胶粘在样品托上，由于导电胶粘度比较较大导致样品比较难取下，可能会导致样品破碎。
6. 为什么与文献中的测试结果差别较大？
样品的具体状态不可能完全一致，例如颗粒尺寸，组分分布、表面形貌和导电性等参数。即使是类似的样品，不同文献的结果差别也是很大。为了能更好地解释数据，建议同一批次样品加入对比样品
