TEM测试是一种高分辨率的电子显微镜技术，用于观察材料的微观结构和成分。TEM测试的目的可以有很多，常见的测试目的有以下几种情况：
1、观察材料的晶体结构：TEM可以通过电子衍射技术观察材料的晶体结构，包括晶格常数、晶体取向和晶体缺陷等信息。
2、分析材料的成分：TEM可以通过能谱分析技术（EDS）或电子能量损失谱（EELS）分析材料的成分，包括元素的种类和含量。
3、研究材料的形貌和尺寸：TEM可以观察材料的形貌和尺寸，包括颗粒的形状、大小和分布等信息。
4、研究材料的界面和界面反应：TEM可以观察材料的界面结构和界面反应，包括晶界、相界和界面反应产物等。
首次下单建议先联系业务工程师，沟通拍摄要求后再下单；若样品需要特殊条件保存，请下单前联系业务工程师确认。
1. 粉体、液体、可测试，薄膜或块状样品不能直接拍摄，需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）；
2. 样品的厚度不超过100nm，如果颗粒稍大一点，可做FIB减薄或其他方法至100nm以下（可先拍SEM判定颗粒大小）；
3. 制样载网的选择：普通碳膜：适用拍摄低倍材料或生物样品；超薄：适用量子点、小颗粒等尺寸较小材料；微栅：适用500nm以上管状、棒状、纳米团聚物样品；钼网：适用于含Cu样品能谱采集。
4.如果样品中含有U或其他放射性元素，下单前请务必联系我们；
5.具体验磁说明可点击查看：透射电子显微镜样品验磁说明，磁性样品要求颗粒大小不超过200nm，且不接受自己制样；请务必仔细检查您的样品，若发现以弱磁强磁充当非磁或者以强磁充当弱磁非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；且须赔偿原订单金额的两倍费用，若造成设备损坏，维修费用须由您全部承担
6.此测试仅针对材料测试类样品，生物类样品与材料类处理方式完全不同。一般对测试样品有如下几方面的要求：
安全性：无毒、无放射性；
是否含有有机物：有机物在高压下不稳定，拍摄过程中极易被打散，样品被打散的同时会污染到仪器，如需拍摄，请务必与工作人员确认。带有机物的样品，无法拍摄mapping，请在预约的时候不要选择此选项；
磁性：磁性颗粒，易吸附到极靴上，原则上电镜（SEM和TEM）不拍磁性样品。但是不同的设备，测试老师不同的样品处理经验状况下，对所拍样品中磁性强弱的接受度不同，所以在预约时候请大家务必如实填写样品是否含磁及磁性的强弱。为方便区分样品是否有磁性及磁性强弱，我们按如下方法对磁性样品进行定义：
磁性样品：含铁、钴、镍、锰等磁性元素均为磁性样品。注意，磁性分硬磁和软磁，有些材料对外不表现磁性，但加磁场后容易磁化，受热后磁性增强也需要定义为磁性样品。
强磁：吸铁石能吸起来的样品。
弱磁：吸铁石吸不起来但是按前述定义为磁性的样品。
7. 粉末提供5-10mg，液体提供0.5-1ml即可，不建议提供较多样品，该项目测试会有消耗，粉末、液体不建议回收！
案例1：ASTM-SA213-T22钢hvof喷涂Ni-22Cr-10Al-1Y和Ni-22Cr-10Al-1Y - sic (N)涂层的组织分析和热腐蚀行为（Int. J. Miner. Metall. Mater., 27(2020), No. 3, pp. 401-416）
案例2：富镍正极材料中钨替代钴的喷雾热解可行性（Int. J. Miner. Metall. Mater., 31(2024), No. 10, pp. 2244-2252)
1. 能云视频吗？寄样的话，我不在旁边怎么才能拍到想要的图片？
能云视频的，用腾讯视频和测试老师实时沟通，测试之前会和您确认对应的制样要求，测试要求，和测试目的，拍摄过程中也可以再次说明。
2. 一个样品会提供几张图片？
每样品8-12张左右，具体根据样品的拍摄情况而定；拍摄逻辑一般是选取2-3个区域，具体区域逐级放大拍摄，比如拍摄高分辨形貌，既有高分辨也有低倍形貌图。
3. JPG、TIFF、DM3的区别是什么？
JPG和TIFF均是图片格式，可以直接打开，也可以用DM软件处理； DM3格式是Gatan公司的特有格式，配有DM软件打开分析处理。
4. 样品DLS测出的粒径是10nm，为啥TEM测出来的是20nm？
测试原理不同，TEM为图片结果，是样品真实形貌，其他测试由曲线得出的颗粒尺寸为计算值。
5. 样品为异质结类样品，两相晶格没拍出来或拍出效果不好的原因是什么？
可能是因为其中一相的晶体不是很好，拍摄时长时间照射，转化为非晶体了，即如需在一张照片里拍出两种晶格，需要样品交界处结晶性较好，且耐电子束，一般双相可以拍出，但三相较难在一张图片里呈现
6. 形貌图片或高分辨图片，不清楚，比较糊的原因是什么？
1) 样品含有机物或有磁性，高压下抖动比较厉害，很难抓拍出好的效果；
2) 样品颗粒大且厚，没有薄区；（备注：一般看形貌，要求样品厚度小于100nm，看高分辨或晶格，样品厚度要小于5-10nm）
3) 衬度不好
备注：TEM衬度是指在正焦或微微欠焦状态下样品的清晰度，即样品跟背景的反差，主要影响因素有：
A. 样品厚度（越薄越好，要求100nm以下）；
B. 样品含有的元素序数（元素序数大的好一些）；
C. 电镜自身分辨率；
D. 部分分散剂如甲苯、丙酮等，也会导致衬度较低。
高分辨比常规形貌，对样品的磁性、厚度、稳定性等要求更高，影响也更大。
7. 高分辨图片，给到的晶格条纹效果不好的原因是什么？
1、样品结晶性不好，晶格就会不清楚；
2、衬度不好，衬度是指样品跟背景的反差，金、银等金属的晶格会相对强一些，但像碳之类的，晶格会弱一些，一般晶格不清楚都是轻的元素，重的元素还好；
3、仪器本身原因，无法控制，高倍下图片一直在抖，不是保持不变，老师根据经验抓拍，一般会多拍几张筛选后数据才发过来；
对高分辨要求较高，比如要求2nm晶格且分辨率很高，建议尝试球差，常规电镜一般可拍摄最小标尺5nm左右，实际拍摄效果跟样品有关。
8. 给到的形貌图团聚，没有分散或单颗图片的原因是什么？
如果测试单写明要求拍单颗或分散比较好的形貌，但给到的仍是团聚图片，多半是因为样品团聚比较厉害，无法超声开，具体可与工作人员确认。
像量子点样品，或一个视野要求看到几十个颗粒，为方便老师测试，最好由客户自己提供对应浓度和超声时间（先在低倍下尝试，根据低倍的图片来调整浓度），不然测试时很难提供到合适的浓度。
9. 能谱数据，mapping效果不好是为什么？
答：mapping与样品厚度、样品对于电子束是否敏感关系较大。
可能原因有以下：
1) 样品厚度太大，mapping扫不出信号，一般300-30nm比较好；
2) 样品是有机物（不建议做MAPPING，做高分辨也不是很合适，容易被电子束打坏），扫久了会积碳，会拍不了；
3) 样品是磁性样品，能谱分1代能谱和2代能谱，因为磁性样品对仪器有损伤，一般愿意给拍磁性样品的仪器会相对老一些，配的能谱基本都是1代能谱，马赛克点比较大，较糊。
