同步辐射XRD（拉伸）是一种分析技术，它使用同步辐射源的X射线在材料拉伸过程中实时监测其结构变化。这项技术可以帮助我们了解材料在受力时的微观反应，比如晶格的变化和可能发生的相变。它主要用于研究金属合金、陶瓷、半导体等材料的力学性能，能够提供比传统XRD更高的分辨率和更精确的数据。

1.  粉末样品请准备至少50mg。≥300目；固体块状样品要求长宽1-2cm，厚度5mm以下

2.  样品表面应平整、干净，无油污或指纹等污染物，对于有毒、易燃或腐蚀性的样品，需要采取适当的安全措施。

3.  样品预处理与常规XRD相同，线站不提供制样服务，样品默认不回收；

4.  样品若易氧化、吸水、变质，请提前告知；

5.  测试前请明确测试条件，如波长、角度范围等；

案例一 

1. 发文期刊：《High pressure synthesis of phosphine ｆｒｏｍ the elements and the discovery of the missing (PH3)2H2 tile. Nat Commun 11, 6125 (2020)》

2. 案例展示：

3. 测试需求：

研究压力如何影响材料的晶体结构，包括可能的压力诱导的相变。通过原位XRD监测在高压1.2至4.1GPa下，黑磷和液态氢气之间的化学反应，以确定是否能够合成PH3，再在进一步升高压力，观察形成的晶体结构，特别是(PH3)2H2化合物。

4. 测试解读：

• XRD图谱分析：文章中提供了不同压力下的XRD图谱，通过比较这些图谱，能够监测样品中发生的化学变化。

• 压缩过程中的晶体形成：在3.5至4.1GPa的压力范围内，XRD图像中出现了单一衍射点，这表明形成了一种晶体产品。通过单晶XRD数据，确定了这种晶体产品具有非中心对称的四方I4cm结构。

• 晶体结构的确定：通过单晶XRD数据，研究人员确定了(PH3)2H2的晶体结构，其中PH3和H2分子分别占据特定的Wyckoff位置。这种结构的确定是通过分析衍射数据并使用晶体学软件完成的。

• 压力对晶体结构的影响：通过在不同压力下收集XRD数据，研究人员能够观察到晶体结构如何随着压力的增加而变化，包括轴比的几乎恒定，表明在所施加的压力范围内压缩几乎是各向同性的。