同步辐射吸收谱（XAFS）是一种强大的材料表征技术，它通过测量X射线与物质相互作用后的吸光度变化，来获取材料的电子结构和局域配位环境信息。XAFS可以分为三个主要部分：

边前区（Pre-edge）：通常与元素的价态和电子结构有关，可以提供有关样品中元素的价态信息 。

近边区（XANES）：反映了样品原子内层电子的激发和弛豫过程，通过分析XANES区可以了解原子的电子结构、价态、对称性等信息 。

扩展边（EXAFS）：提供了原子周围配位原子的信息，包括配位原子种类、键长、配位数和无序度等 。

XAFS技术的优势在于：

1.  不依赖于样品的长程有序性，适用于非晶态和无序材料的研究 。

2.  具有元素选择性，能够区分同一样品中不同元素的局域结构 。

3.  可以对固体、液体、气体等不同状态的样品进行分析 。

4.  无损检测，可以进行原位测试，观察材料在实际工作条件下的行为 。

XAFS在材料科学、化学、环境科学、生物医学等领域有广泛应用，它可以用于研究催化剂的活性位点、材料的电子结构、污染物的形态和分布等 。随着同步辐射光源技术的发展，XAFS的实验方法和数据处理技术也在不断进步，为科学研究提供了更加深入和全面的认识 。

1.  可测元素激发能范围约为4k-32keV，对应元素大约为Ti-Te的K边。

2.  粉末样品300目以上，尽量100mg以上（50-100mg)，块体或者薄膜长宽1cm左右。

3.  本测试预约机时珍贵，如无不可抗拒因素，概不退单！通常不限定是哪一个光源，如有特殊要求请提前说明，谢谢！

硬X射线XAFS: 适用于测量元素激发能在4k-20keV范围内，涵盖了从Ca到Mo的K边，以及其他元素的L边，例如Pt的L3边。

对于K边超过20keV的元素(如Pd、Ag、Sb、Cs、Te等)，利用同步辐射高能机时进行测量，具体测试时间需要与工程师确认

案例一：《ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS》

测试需求：

想要通过XAFS测试来分析钴原子的化学状态、配位环境以及与周围原子的相互作用，特别是钴单原子与氮和硫的配位情况。要求测试完成后进行简单的数据处理。

测试解读：

•XANES分析： 通过分析S-Co-SACs/NSC的Co K边XANES谱判断钴原子的价态介于+2和+3之间。
•EXAFS分析： S-Co-SACs/NSC的FT-EXAFS谱显示两个主要峰，分别对应于Co-N和Co-S键。结合EXAFS拟合，确定S-Co-SACs/NSC中钴原子的第一配位壳层中氮和硫的配位数分别为3.0和1.3，进一步确认了Co-N3S配位结构。
•小波变换：与CoPc相比，S-Co-SACs/NSC样品在小波变换空间的信号向更高的位置移动，这表明钴原子在S-Co-SACs/NSC中可能具有混合原子（氮和硫）的配位连接。在S-Co-SACs/NSC的EXAFS小波变换分析中没有观察到Co-Co键的散射路径信号，这进一步证实了钴原子在材料中的原子级分散性。