Fit2D既是通用又是专业的1和2维的散射数据分析程序,在世界范围内得到了广泛的应用。FIT2D可用于交互数据处理,也可以对数据进行“批处理”。(软件链接:THE FIT2D HOME PAGE (esrf.fr))
SASVIEW是一个小角散射分析软件包,最初是作为名称SansView下的NSF DANSE项目。(软件链接:BioXTAS RAW download | SourceForge.net)
SAXS的常见实验问题:1️⃣对于某些样品类别,如生物或软材料(例如聚合物和凝胶),在SAXS测量过程中可能会由于高辐射剂量导致样品损伤。2️⃣X射线主要通过吸收或散射过程与电子相互作用,不可避免地在样品内形成自由基或断裂化学键。3️⃣在高通量同步辐射束下,这种效应变得更加显著,光束诱导的样品加热也可能发生。4️⃣检测和量化X射线引起的损伤,例如通过在样品曝光期间进行实时比较数据分析,并通过对样品环境的调整或在损伤发生前测量样品状态来减轻X射线损伤效应,是SAXS的一个关键组成部分。SANS的常见实验问题:1️⃣许多用于SANS的生物和软物质样品的同位素组成主要是普通的氢(1H)。2️⃣1H的非相干散射长度与其他同位素相比非常大,富含1H的样品会产生非相干背景,可能需要增加样品浓度或样品曝光时间来改善相干散射模式的测量。3️⃣通过例如用2H2O替换1H2O作为溶剂,或对大分子进行非交换性氘代,来替代1H为2H,可以改变中子对比度并减少非相干散射贡献。然而,将1H替换为2H可能会降低大分子的溶解度或改变样品组分之间的结合亲和力。4️⃣中子束通常比X射线束大得多,因此SANS实验通常需要比SAXS样品更多的样品量,尤其是在进行对比度变化实验时。5️⃣随着硬件和中子通量的最新进展,已经减少了样品曝光时间和束径,这对于更高对比度的系统甚至是微流控样品环境中的系统都是有益的。ToF SANS仪器的数据分析问题:1️⃣与可选单波长SANS相比,飞行时间(ToF)SANS仪器的数据分析更为复杂。2️⃣当与样品中的氢相互作用时,部分入射中子会获得能量,导致对总飞行时间的估计不正确,因此,对中子波长的估计也不正确,导致非相干背景的增加。硬物质SANS实验的问题:1️⃣在硬物质SANS实验中,必须考虑布拉格边缘效应。2️⃣在布拉格边缘效应中,某些波长的中子会发生全反射,导致透射函数出现下降,使得在一定范围内无法获得I(q)。一般SAXS问题:1️⃣当需要减去背景散射贡献时,如结构分析稀释的生物分子或聚合物时,需要准确测量样品散射和背景散射。2️⃣为了准确扣除背景,溶剂本身在实验中不应对散射信号产生影响,确保背景减法的准确性。3️⃣如果样品有自聚趋势,尤其是随着样品浓度的增加,将样品溶剂与背景溶剂匹配可能会很困难。4️⃣由于样品粒子占据了空间,导致在测量时,X射线或中子束实际照射到的纯溶剂体积比照射到含有粒子的样品溶液的体积要小。样品的多分散性问题:1️⃣稀释多分散系统的散射剖面代表了来自群体中所有组分的总贡献,按其体积分数加权。2️⃣当群体内状态分布变宽时,越来越难以划分和量化稀薄群体内单个粒子的贡献。样品的多重散射问题:1️⃣对于SAXS和SANS来说,另一个挑战是多重散射,其中一些或大多数检测到的中子或X射线代表样品内的多次散射事件。2️⃣多重散射可能发生在两个散射事件之间的平均自由路径与样品厚度相当或更小时发生。3️⃣虽然已经发展了多重散射理论,但是仍然不够成熟,目前减轻这个问题的一些方法包括研究更薄的样品、减少波长或改变对比度。参考文献[1]Jeffries, C.M., Ilavsky, J., Martel, A. et al. Small-angle X-ray and neutron scattering. Nat Rev Methods Primers 1, 70 (2021). https://doi.org/10.1038/s43586-021-00064-9[2]Yokoyama, H. Small angle X-ray scattering studies of nanocellular and nanoporous structures. Polym J 45, 3–9 (2013). https://doi.org/10.1038/pj.2012.205[3] Ilavsky, J. etal. Ultra-small-angle X-ray scattering at the advanced photon source. J. Appl. Cryst. 42, 469–479 (2009). https://doi.org/10.1107/S0021889809008802[4] Ilavsky, J. etal. Development of combined microstructure and structure characterization facility for in situ and operando studies at the Advanced Photon Source. J. Appl. Cryst. 51, 867–882 (2018). https://doi.org/10.1107/S160057671800643X. PMID: 30996401