VASP计算差分电荷的关键点!

差分电荷密度(Charge density difference)是研究电子结构的重要手段之一,它可以通过直观地展示两个片段相互作用后的电子流向,以及原子在形成分子过程中电子密度的变化,从而探究化学键的本质。
差分电荷定义为成键后的电荷密度与对应的点的原子电荷密度之差。通过差分电荷密度的计算和分析,可以清楚地得到在成键和成键电子耦合过程中的电荷移动以及成键极化方向等性质
计算流程

VASP计算差分电荷的具体流程如下:

1. 优化结构:首先需要优化整个系统的结构,例如OOH吸附在NiO(111)表面的情况。这一步确保了三次自洽计算中使用的FFT网格一致性(NGXF, NGYF, NGZF)。

2. 分别优化片段:然后分别优化系统中的各个片段,例如OOH和NiO(111)表面,以获得各自的CHGCAR文件,这些文件包含了电荷密度信息。

3. 计算差分电荷密度:使用vtstscript脚本包进行电荷差分计算脚本可以读取不同CHGCAR文件并计算电荷密度差,得到差分电荷文件。

4. 可视化:将生成的差分电荷文件导入到VESTA软件中进行可视化,以观察电荷密度的变化。在VESTA中,可以通过设置等值面来显示电荷密度的增加或减少。

通过这些步骤,可以分析成键过程、结构弛豫前后的电荷转移,以及吸附分子与衬底之间的电荷传输等

晶体结构优化结果:

VASP计算差分电荷的关键点!

差分电荷计算结果:

VASP计算差分电荷的关键点!

自洽计算INCAR文件:

VASP计算差分电荷的关键点!

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